关键词：杂光分析、BSDF、BRDF、BTDF、鬼像分析、stray light analysis,  

               ghost image analysis、双向散射分布函数、双向投射分布函数、

               双色反射分布函数、193nm、1064nm、1550nm、650nm、通信卫星

               红外冷反射、可见光、渲染效果、植物叶片、太阳能聚光器、LED光源

高精度宽波段材料表面散射测量仪

测量UV、 VIS、SWIR、MWIR的绝对BSDF/ BRDF

超高精度角度控制（标准配置优于1mrad，可升级到0.1mrad）

常见的采样大小110 x110 mm, 最大的采样尺寸0.9 x 1m

小型光源的角度分布，例如：LEDs，LCD/TFT显示

测量角度光分布，例如：BSDF、BRDF、BRTF

符合ASTM E2387-05标准

散射测量仪配置：

光源：卤钨灯、氙灯、632.8nm HeNe激光、

                      激光二极管（405nm, 650nm, 532nm）、汞/氙紫外短弧灯

                      193nm可以提供，具体咨询我们

探测器：低于1μm波段采用Si光电二极管

                IR至2.5um波段采用InGaAs光电二极管

               220-380nm：UV光电探测器

               193nm也可提供，具体咨询我们

                中红外采用MTC探测器（目前不提供）

               分辨率10nm

滤波器：R-filter, IR-cutoff, 带通, V(λ), 取决于客户要求

采样大小：最小10mm, 常见80 x 60mm, 最大900x 1000m；

                    厚度0.1-200mm

数据格式：ASCII，可以拟合到ASAP、FRED、LT、TP等软件

散射测量仪特色：

• 高动态范围，100%角度均匀覆盖，3D测量；

• 超高精度角度控制（标准优于1mrad，可升级到优于0.1mrad）

• 高精度（优于1mrad）小角度散射测量；标准位置精度优于0.1°

• 独特的机械结构实现无障碍区域扫描

• 快速测量、1000Hz采样率、自适应采样算法；

• 可调制光源、探测器和样品夹具，覆盖宽光谱范围、辐射度、光度测定和IR测量

• 定位传感器、集成错误探测，7×24h独立操作；强大的测量和校准系统

• 样品切换器提供全自动批量样品测量；

• 基于Linux控制系统操作稳定，可以导出支持常见软件的数据格式

• 采用最新的控制软件、GUI和可编程界面（API）